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NORMAL PRESSURE PLASMA ETCHING METHOD

机译:常压等离子体刻蚀方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To selectively conduct the plasma etching to silicon nitride under the almost normal pressure for the processing object including silicon nitride and silicon oxide.;SOLUTION: The process gas of the supply source 2 of a normal pressure plasma etching apparatus M is converted to the plasma gas within a plasma discharge space 1a, and this plasma is blown to a processing object W. The processing object W includes silicon nitride to be etched and silicon oxide not to be etched. The processing object W is heated with a heater 6 up to 90°C (desirably 100°C) to 200°C.;COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI
机译:解决的问题:在包括氮化硅和氧化硅的处理对象的几乎常压下选择性地对氮化硅进行等离子体蚀刻;解决方案:常压等离子体蚀刻装置M的供给源2的处理气体为在等离子体放电空间1a内将其转化成等离子体气体,并将该等离子体吹到处理对象W。处理对象W包括要被蚀刻的氮化硅和不被蚀刻的氧化硅。用加热器6将被处理物W加热至90℃(期望为100℃)至200℃。版权:(C)2005,JPO&NCIPI

著录项

  • 公开/公告号JP2005129662A

    专利类型

  • 公开/公告日2005-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SEKISUI CHEM CO LTD;

    申请/专利号JP20030362354

  • 发明设计人 NOGAMI MITSUHIDE;MIYAMOTO EIJI;

    申请日2003-10-22

  • 分类号H01L21/3065;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 22:36:06

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