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Method for improving film uniformity in plasma enhanced chemical vapor deposition system

机译:在等离子体增强化学气相沉积系统中改善膜均匀性的方法

摘要

A method for improving uniformity of a film in a plasma enhanced chemical vapor deposition system in a deposition chamber includes the following steps before a deposition procedure. Firstly, a cleaning procedure is performed to remove particles adhered onto an internal wall of the deposition chamber. Then, a pre-deposition procedure is performed to isolate contaminants generated during the clearing procedure. Afterward, a specified gas is introduced into the deposition chamber so as to stabilize a condition inside the deposition chamber.
机译:一种用于在沉积室中的等离子体增强化学气相沉积系统中改善膜的均匀性的方法,包括在沉积程序之前的以下步骤。首先,执行清洁程序以去除粘附到沉积室的内壁上的颗粒。然后,执行预沉积过程以隔离在清除过程中生成的污染物。之后,将特定的气体引入沉积室中,以稳定沉积室内部的条件。

著录项

  • 公开/公告号US2005025906A1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-02-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HUI-CHU LIN LIN;WEN-CHENG LU;

    申请/专利号US20030631134

  • 发明设计人 WEN-CHENG LU;HUI-CHU LIN LIN;

    申请日2003-07-31

  • 分类号H05H1/24;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 22:22:45

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