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CHARACTERIZATION AND COMPENSATION OF ERRORS IN MULTI-AXIS INTERFEROMETRY SYSTEM

机译:多轴干涉测量系统中误差的表征与补偿

摘要

In general, in one aspect, the invention features a method that includes monitoring a position of a stage (140) along a first measurement axis and a second measurement axis of a multi-axis interferometry system and determining a position of the stage (140) with respect to another degree of freedom based on the monitored positions along the first and second axes and predetermined information about how the measurement axes deviate from being parallel to one another.
机译:总体上,在一个方面,本发明的特征在于一种方法,该方法包括:沿着多轴干涉测量系统的第一测量轴和第二测量轴监测平台(140)的位置,并确定平台(140)的位置。基于沿着第一轴和第二轴的监视位置以及关于测量轴如何偏离彼此平行的预定信息来确定另一自由度。

著录项

  • 公开/公告号WO2005045529A2

    专利类型

  • 公开/公告日2005-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ZYGO CORPORATION;HILL HENRY A.;

    申请/专利号WO2004US36637

  • 发明设计人 HILL HENRY A.;

    申请日2004-11-04

  • 分类号G03F7/20;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 22:10:13

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