机译:利用硅表皮生长法及其制造方法的SOI结构,可通过在硅基体上形成绝缘层和沟槽来降低制造成本并提高绝缘功能,并执行表皮硅生长过程
公开/公告号KR20050002941A
专利类型
公开/公告日2005-01-10
原文格式PDF
申请/专利权人 DONGBUANAM SEMICONDUCTOR INC.;
申请/专利号KR20030042290
发明设计人 KIM MIN SEOK;
申请日2003-06-27
分类号H01L27/12;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 22:06:02