要解决的问题:测量极化角旋转以测量托卡马克装置的电子密度,并以高可靠性稳定地测量托卡马克装置的电子密度。
解决方案:在托卡马克装置的外部布置有用于产生单波长光的光源。光源将单个波长的光入射到托卡马克装置内部的等离子体中。该波长具有法拉第旋转角的波长的长度,这是由于等离子体显示出比测量的偏振角分辨率大的法拉第旋转角。从等离子体发射的光的单个波长被偏振检测/测量装置检测以测量法拉第旋转角。
版权:(C)2006,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2006078494A
专利类型
公开/公告日2006-03-23
原文格式PDF
申请/专利权人 JAPAN ATOM ENERGY RES INST;
申请/专利号JP20050286541
发明设计人 KONO YASUNORI;
申请日2005-09-30
分类号G01N21/21;G01J4/04;G21B1/05;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:54:39