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Dual-metal CMOS transistors with tunable gate electrode work function and method of making the same

机译:具有可调栅电极功函数的双金属CMOS晶体管及其制造方法

摘要

A dual-metal CMOS arrangement and method of making the same provides a substrate and a plurality of NMOS devices and PMOS devices formed on the substrate. Each of the plurality of NMOS devices and PMOS devices have gate electrodes. Each NMOS gate electrode includes a first silicide region on the substrate and a first metal region on the first silicide region. The first silicide region of the NMOS gate electrode consists of a first silicide having a work function that is close to the conduction band of silicon. Each of the PMOS gate electrodes includes a second silicide region on the substrate and a second metal region on the second silicide region. The second silicide region of the PMOS gate electrode consists of a second silicide having a work function that is close to the valence band of silicon.
机译:双金属CMOS装置及其制造方法提供了一个基板以及在该基板上形成的多个NMOS器件和PMOS器件。多个NMOS器件和PMOS器件中的每一个均具有栅电极。每个NMOS栅电极包括在衬底上的第一硅化物区域和在第一硅化物区域上的第一金属区域。 NMOS栅电极的第一硅化物区域由功函数接近于硅的导带的第一硅化物组成。每个PMOS栅电极包括在衬底上的第二硅化物区域和在第二硅化物区域上的第二金属区域。 PMOS栅电极的第二硅化物区域由具有接近于硅的价带的功函数的第二硅化物组成。

著录项

  • 公开/公告号US7078278B2

    专利类型

  • 公开/公告日2006-07-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JAMES PAN;MING-REN LIN;

    申请/专利号US20040833073

  • 发明设计人 JAMES PAN;MING-REN LIN;

    申请日2004-04-28

  • 分类号H01L28/80;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:44:13

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