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Automated method of correcting aberrations in electron beam, method of visualizing aberrations, and automated aberration corrector

机译:自动校正电子束像差的方法,使像差可视化的方法以及自动像差校正器

摘要

There is disclosed a method and apparatus for automatically correcting aberrations in an electron beam by the use of a computer. An axis deviation-correcting means for correcting deviation of the axis of the beam, a focusing means for correcting defocus of the beam, a chromatic aberration-correcting means for correcting chromatic aberration in the beam, and an aperture aberration-correcting means for correcting aperture aberration in the beam are stored in the computer.
机译:公开了一种通过使用计算机来自动校正电子束中的像差的方法和设备。用于校正光束的轴偏​​移的轴偏差校正装置,用于校正光束的散焦的聚焦装置,用于校正光束中的色像差的色差校正装置以及用于校正光圈的光圈像差校正装置。光束中的像差存储在计算机中。

著录项

  • 公开/公告号US7060986B2

    专利类型

  • 公开/公告日2006-06-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NATSUKO NAKAMURA;JOACHIM ZACH;

    申请/专利号US20050100350

  • 发明设计人 NATSUKO NAKAMURA;JOACHIM ZACH;

    申请日2005-04-06

  • 分类号H01J37/153;H01J37/08;G21K5/10;G21K7/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:43:53

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