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像差评估图案、像差评估方法、像差校正方法、电子束描绘设备、电子显微镜、原盘、压模、记录介质和结构

摘要

本发明公开了一种照射电子束的照射系统的像散的评估方法。在该方法中,由多个(例如四个)同心圆组成的图形图案形成于参考样品WP上,且基于通过将该电子束扫描在参考样品WP上得到的电子信号而形成图像(扫描图像)。在该扫描图像中,图像在纵向平行于像散发生方向的区域内具有模糊,且该模糊的大小取决于像散的大小。因此,基于得到的扫描图像可以检测照射设备的照射系统的像散的方向和大小。

著录项

  • 公开/公告号CN101421823A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-04-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社理光;株式会社克莱斯泰克;

    申请/专利号CN200780013594.8

  • 申请日2007-12-27

  • 分类号H01L21/027;G01N1/00;G03F7/20;H01J37/153;H01J37/28;H01J37/305;

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人王冉

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-17 21:53:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-20

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/027 授权公告日:20110420 终止日期:20181227 申请日:20071227

    专利权的终止

  • 2011-04-20

    授权

    授权

  • 2009-06-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-04-29

    公开

    公开

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