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Transistor structures and transistors with a germanium-containing channel

机译:具有含锗沟道的晶体管结构和晶体管

摘要

A transistor structure includes a first undoped, silicon-containing channel layer, a buried germanium channel, and a second undoped, silicon-containing channel layer. The first and second channel layers may contain SiGe or, alternatively, Si only. Another transistor structure includes a first channel layer, a buried germanium channel, and a second, undoped channel layer containing silicon and germanium over the buried channel. A further transistor structure includes a first channel layer, a buried germanium channel, and a second channel layer containing compositionally graded SiGe over the buried channel. A still further transistor structure includes a first silicon layer, an undoped or homogeneously doped buried channel containing silicon and germanium, and a second silicon layer over the buried channel.
机译:晶体管结构包括第一未掺杂的含硅沟道层,掩埋锗沟道和第二未掺杂的含硅沟道层。第一和第二沟道层可以包含SiGe或仅包含Si。另一晶体管结构包括第一沟道层,掩埋锗沟道以及在掩埋沟道上方包含硅和锗的第二未掺杂沟道层。另一晶体管结构包括第一沟道层,掩埋锗沟道和第二沟道层,该第二沟道层在掩埋沟道上方包含组成渐变的SiGe。另一晶体管结构包括第一硅层,包含硅和锗的未掺杂或均匀掺杂的掩埋沟道以及在掩埋沟道上方的第二硅层。

著录项

  • 公开/公告号US2006001126A1

    专利类型

  • 公开/公告日2006-01-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHANDRA MOULI;

    申请/专利号US20040882563

  • 发明设计人 CHANDRA MOULI;

    申请日2004-06-30

  • 分类号H01L31/062;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:42:06

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