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Methods of fabricating silicon carbide devices with hybrid well regions

机译:具有混合阱区的碳化硅器件的制造方法

摘要

MOS channel devices and methods of fabricating such devices having a hybrid channel are provided. Exemplary devices include vertical power MOSFETs that include a hybrid well region of silicon carbide and methods of fabricating such devices are provided. The hybrid well region may include an implanted p-type silicon carbide well portion in a p-type silicon carbide epitaxial layer, an implanted p-type silicon carbide contact portion that contacts the implanted p-type silicon carbide well portion and extends to a surface of the p-type epitaxial layer and/or an epitaxial p-type silicon carbide portion, at least a portion of the epitaxial p-type silicon carbide well portion corresponding to a p-type channel region of the MOSFET.
机译:提供了MOS沟道器件以及制造具有混合沟道的这种器件的方法。示例性的器件包括垂直功率MOSFET,其包括碳化硅的混合阱区域,并且提供了制造这种器件的方法。混合阱区可以包括在p型碳化硅外延层中的注入的p型碳化硅阱部分,与注入的p型碳化硅阱部分接触并延伸到表面的注入的p型碳化硅接触部分。在p型外延层和/或外延p型碳化硅部分中,外延p型碳化硅阱部分的至少一部分对应于MOSFET的p型沟道区域。

著录项

  • 公开/公告号US7118970B2

    专利类型

  • 公开/公告日2006-10-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MRINAL KANTI DAS;SEI-HYUNG RYU;

    申请/专利号US20040873394

  • 发明设计人 MRINAL KANTI DAS;SEI-HYUNG RYU;

    申请日2004-06-22

  • 分类号H01L21/336;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:41:54

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