机译:坐标测量过程,包括与图像处理系统一起测量样品成形单元的位置,并在短时间内记录样品成形单元的图像
公开/公告号DE102005044032A1
专利类型
公开/公告日2006-03-23
原文格式PDF
申请/专利权人 WERTH MESSTECHNIK GMBH;
申请/专利号DE20051044032
发明设计人 ANTRAG AUF NICHTNENNUNG;
申请日2005-09-14
分类号G01B11/03;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 21:20:11