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FILM SURFACE RESISTANCE MEASURING INSTRUMENT

机译:薄膜表面电阻测量仪器

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To simplify film surface resistance measuring technique to be easily measurable.;SOLUTION: Two of four probe pins prepared on a square, which are on the opposite two sides of the square, are connected electrically (see Fig. 2) to wire so as to be measurable the film surface resistance.;COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
机译:解决的问题:为简化薄膜表面电阻测量技术,使其易于测量。;解决方案:在正方形上准备的四个探针中的两个位于正方形的相对两侧,电连接(参见图2)。以便测量薄膜的表面电阻。;版权所有:(C)2007,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2007064799A

    专利类型

  • 公开/公告日2007-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PENTEL CORP;

    申请/专利号JP20050251343

  • 发明设计人 NOGUCHI TOMOYA;

    申请日2005-08-31

  • 分类号G01R27/02;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 21:14:28

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