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Structure and method for thin single or multichip semiconductor QFN packages

机译:薄型单芯片或多芯片半导体QFN封装的结构和方法

摘要

A semiconductor device (100) has one or more semiconductor chips (110) with active and passive surfaces, wherein the active surfaces include contact pads. The device further has a plurality of metal segments (111) separated from the chip by gaps (120); the segments have first and second surfaces, wherein the second surfaces (111b) are coplanar (130) with the passive chip surface (101b). Conductive connectors span from the chip contact pads to the respective first segment surface. Polymeric encapsulation compound (150) covers the active chip surface, the connectors, and the first segment surfaces, and are filling the gaps so that the compound forms surfaces coplanar (130) with the passive chip surface and the second segment surfaces. In this structure, the device thickness may be only about 250 μm. Reflow metals may be on the passive chip surface and the second segment surfaces.
机译:半导体器件( 100 )具有一个或多个带有有源和无源表面的半导体芯片( 110 ),其中,有源表面包括接触垫。该器件还具有多个金属段( 111 ),它们通过间隙( 120 )与芯片分开;这些段具有第一和第二表面,其中第二表面( 111 b )与被动芯片表面()共面( 130 ) > 101 b )。导电连接器从芯片接触垫跨越到相应的第一段表面。聚合物封装化合物( 150 )覆盖有源芯片表面,连接器和第一段表面,并填充间隙,因此该化合物形成共面的表面( 130 )具有无源芯片表面和第二分段表面。在这种结构中,器件厚度可以仅为大约250μm。回流金属可以在无源芯片表面和第二段表面上。

著录项

  • 公开/公告号US2007132075A1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-06-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MUTSUMI MASUMOTO;

    申请/专利号US20050299594

  • 发明设计人 MUTSUMI MASUMOTO;

    申请日2005-12-12

  • 分类号H01L23/495;H01L21/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:06:32

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