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Method for coating alumina thin film by using a Atomic Layer Deposition on the surface of Nanowire and Nanotube

机译:通过在纳米线和纳米管的表面上使用原子层沉积法涂覆氧化铝薄膜的方法

摘要

PURPOSE: Provided is a method for coating an alumina (Al2O3) thin film on the surface of a nanowire and a nanotube to form a uniform alumina thin film coating which can be used as a capacitor dielectric material and a gate oxide and protects the surface of various nano-electronic devices. CONSTITUTION: The method comprises the steps of vertically growing a nanowire and a nanotube on the top part of a substrate; and coating an alumina thin film on the surface of the nanowire and the nanotube by an atomic layer deposition. Preferably the nanowire comprises any one material selected from the group consisting of Si, Ge, GaN, InP, GaAs, GaP, Si3N4, SiO2, SiC, ZnO and Ga2O3; and the precursor material used in the atomic layer deposition is trimethylammonium and water.
机译:目的:提供一种在纳米线和纳米管的表面上涂覆氧化铝(Al2O3)薄膜以形成均匀的氧化铝薄膜涂层的方法,该涂层可用作电容器介电材料和栅极氧化物并保护其表面。各种纳米电子设备。组成:该方法包括以下步骤:在衬底的顶部垂直生长纳米线和纳米管。通过原子层沉积在纳米线和纳米管的表面上涂覆氧化铝薄膜。优选地,纳米线包括选自由Si,Ge,GaN,InP,GaAs,GaP,Si 3 N 4,SiO 2,SiC,ZnO和Ga 2 O 3组成的组中的任何一种材料。原子层沉积中使用的前驱物是三甲基铵和水。

著录项

  • 公开/公告号KR100709112B1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-04-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20030046515

  • 申请日2003-07-09

  • 分类号B82B3;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 20:32:22

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