要解决的问题:提供一种用于防止Au和Al扩散的W-Ti扩散防止膜,该W-Ti扩散防止膜形成在用于将半导体芯片安装到基板的Au凸块和Al电极之间并且具有高蚀刻速率。以及提供用于溅射的W-Ti靶,以形成具有高蚀刻速率的W-Ti防扩散膜。
解决方案:具有高蚀刻速率的W-Ti扩散防止膜的组成包括:5质量%至20质量%的Ti; Fe为25至100ppm,余量包含W和不可避免的杂质。用于溅射的Ti-W靶具有与防扩散膜相同的成分组成。
版权:(C)2008,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2008218693A
专利类型
公开/公告日2008-09-18
原文格式PDF
申请/专利权人 MITSUBISHI MATERIALS CORP;
申请/专利号JP20070053862
申请日2007-03-05
分类号H01L21/60;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:25:45