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Buffer layer for selective SiGe growth for uniform nucleation

机译:用于选择性SiGe生长以实现均匀成核的缓冲层

摘要

Methods for preparing a surface for selective silicon-germanium epitaxy by forming a thin silicon (Si) buffer layer or a thin, low concentration SiGe buffer layer for uniform nucleation, are disclosed.
机译:公开了通过形成用于均匀成核的薄硅(Si)缓冲层或薄,低浓度SiGe缓冲层来制备用于选择性硅锗外延的表面的方法。

著录项

  • 公开/公告号US7309660B2

    专利类型

  • 公开/公告日2007-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HUAJIE CHEN;

    申请/专利号US20040943048

  • 发明设计人 HUAJIE CHEN;

    申请日2004-09-16

  • 分类号H01L21/31;H01L21/20;H01L21/36;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 20:09:55

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