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X-ray fluorescence measuring system and methods for trace elements

机译:X射线荧光测定系统及微量元素的测定方法

摘要

An X-ray fluorescence measuring system and related measuring methods are disclosed, the system using X-ray energy at a level of less than 80 KeV may be directed toward a material, such as coal. The energy fluoresced may be detected ( 10 ) and used to measure the elemental composition of the material, including trace elements. The material may be moving or stationary.
机译:公开了一种X射线荧光测量系统和相关的测量方法,该使用小于80KeV的水平的X射线能量的系统可以被导向诸如煤的材料。发出荧光的能量可以被检测(10)并且被用于测量包括痕量元素的材料的元素组成。材料可以是移动的或固定的。

著录项

  • 公开/公告号AU2002324849B2

    专利类型

  • 公开/公告日2008-01-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 QUALITY CONTROL INC.;

    申请/专利号AU20020324849

  • 发明设计人 MELVIN J LAURLIA;CLAUS C BACHMANN;

    申请日2002-09-03

  • 分类号G01N23/223;G01B15/06;

  • 国家 AU

  • 入库时间 2022-08-21 20:03:08

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