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Fabrication method for active structure of multi-gate transistor with improved performance and active structure and multi-gate transistor fabricated thereby

机译:具有改善的性能和有源结构的多栅晶体管的有源结构的制造方法以及由此制造的多栅晶体管

摘要

For fabricating a multi-gate transistor, at least one active pattern having uniform critical dimension is formed. Epitaxy structures are grown from exposed portions of the active pattern. A channel region of the transistor is formed from at least two surfaces of the active pattern. Source and drain are formed using the epitaxy structures.
机译:为了制造多栅晶体管,形成至少一个具有均匀临界尺寸的有源图案。从有源图案的暴露部分生长外延结构。晶体管的沟道区由有源图案的至少两个表面形成。源极和漏极使用外延结构形成。

著录项

  • 公开/公告号KR100781538B1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-12-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20040008148

  • 发明设计人 진유승;

    申请日2004-02-07

  • 分类号H01L21/336;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 19:54:33

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