methods for analysis of effects of external influences on electric circuits and analysevorrichtung

摘要

the"},{"src":"Erfindung betrifft ein Verfahren zur Analyse u00e4uu00dferer Einflu00fcsse auf elektrische Schaltungen","dst":"the invention relates to a procedure for the analysis of external influences on electrical circuits"},{"src":"sowie eine entsprechende Analysevorrichtung. Eine elektrische Schaltung","dst":"and a corresponding analysevorrichtung. an electric circuit"},{"src":"wird in einem Pru00fcfraum","dst":"in a test"},{"src":"angeordnet. Der zeitliche Verlauf eines ersten Parameters (21),","dst":"ordered. the timing of a first parameter (21)."},{"src":"der das Verhalten der elektrischen Schaltung charakterisiert, wird durch","dst":"the behaviour of the electrical circuit is characterized by"},{"src":"Erfassung von Messwerten zu mehreren Zeitpunkten gemessen.","dst":"collection of measurements several times measured.at the same time"},{"src":"wird der zeitliche Verlauf eines zweiten Parameters, der den u00e4uu00dferen Einfluss","dst":"the time course of a second parameter of the external influence"},{"src":"charakterisiert, durch Erfassen von Messwerten zu denselben Zeitpunkten","dst":"characterized by collecting measurements at the same time"},{"src":"gemessen. Der zeitliche Verlauf des ersten Parameters (21) wird","dst":"measured. the timing of the first parameter (21)"},{"src":"in einem zweidimensionalen Diagramm (20) als Funktion der Zeit aufgetragen.","dst":"in a two-dimensional diagram (20) as a function of time is plotted.in addition, the background (22) of the diagram in dependence"},{"src":"von dem zu jedem Zeitpunkt gemessenen zweiten Parameter gekennzeichnet.","dst":"from the measured second parameter at any time).