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机译：用于以聚光器形式进行质量控制的外观检查的方法和系统。
公开/公告号ITRM20080151A1
专利类型
公开/公告日2009-09-20
原文格式PDF
申请/专利权人 ENEA - ENTE PER LE NUOVE TECNOLOGIE LENERGIA E;
申请/专利号IT2008RM00151
发明设计人 MONTECCHI MARCO;
申请日2008-03-19
分类号
国家 IT
入库时间 2022-08-21 19:24:47
机译： 玻璃基板的目视检查装置的宏观照明系统，目视检查装置和目视检查方法
机译： 电灯板系统，图像质量控制信息的发送方法以及使用包含图像质量控制信息的图像数据来控制图像质量的方法
机译： 阴极的物理质量检查站，能够产生受控的空间光，使用数字设备自动控制此类阴极。系统由光学检查，检查系统的支撑结构和保护罩组成。
