首页> 外国专利> IMPROVED ACTIVE MATRIX ESD PROTECTION AND TESTING SCHEME

IMPROVED ACTIVE MATRIX ESD PROTECTION AND TESTING SCHEME

机译:改进的有源矩阵ESD保护和测试方案

摘要

An improved method of manufacturing active matrix displays with ESD protection through final assembly and in process testing and repair capabilities. At least a first set of shorting bars is formed adjacent the row (12.22) and column (18.28) matrix. The shorting bars are respectively coupled to one another in series to allow testing of the matrix elements. A first shorting bar is coupled to the row lines and a second shorting bar is coupled to the column lines. The shorting bars can remain coupled to the matrix through final assembly to provide ESD protection and final assembly and testing capability.
机译:通过最终组装以及在过程中测试和修复功能来制造具有ESD保护的有源矩阵显示器的一种改进方法。在行(12.22)和列(18.28)矩阵附近形成至少第一组短路棒。短路棒分别彼此串联耦合以允许测试矩阵元件。第一短路棒连接到行线,第二短路棒连接到列线。短路棒可以通过最终组装保持与矩阵的耦合,以提供ESD保护以及最终组装和测试的能力。

著录项

  • 公开/公告号EP1008177B1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HYUNDAI ELECTRONICS AMERICA;

    申请/专利号EP19980903440

  • 发明设计人 HOLMBERG SCOTT H.;

    申请日1998-01-13

  • 分类号H01L21/786;G02F1/1343;G02F1/136;G02F1/13;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 19:19:21

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号