机译:包括存储存储在存储单元中的数据位数的块的状态检查单元的半导体器件,基于存储在存储单元中的数据位数的存储数据读取方法以及存储存储数量的数据的数据编程方法在记忆细胞中
公开/公告号KR20080112876A
专利类型
公开/公告日2008-12-26
原文格式PDF
申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;
申请/专利号KR20070061874
申请日2007-06-22
分类号G11C16/26;G11C16/28;G11C16/10;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 19:14:25