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CHUCK TABLE CLEANING METHOD, CHUCK TABLE CLEANING APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR WAFER PLANAR PROCESSING APPARATUS

机译:卡盘台清洁方法,卡盘台清洁设备和半导体晶片平面加工设备

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a chuck table cleaning method, a chuck table cleaning apparatus, and a semiconductor wafer planar processing apparatus for easily removing silicone dust adhered to an adsorption surface of a chuck table, and thereby recovering the adsorption surface of the chuck table in a non-contaminated condition.;SOLUTION: In a cleaning method of the chuck table that removes silicone dust adhered to an adsorption surface 13 of a chuck table 8 that adsorbs a semiconductor wafer, plasma cleaning is carried out to the adsorption surface 13 of the chuck table 8 using a mixed gas including sulfur hexafluoride gas, oxygen gas, and argon gas.;COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种卡盘工作台清洁方法,卡盘工作台清洁设备和半导体晶片平面处理设备,以容易地去除粘附在卡盘工作台的吸附表面上的硅尘,从而恢复卡盘的吸附表面。解决方案:在吸盘台的清洁方法中,该方法除去粘附在吸附半导体晶片的吸盘台8的吸附表面13上的硅尘,对吸附表面13进行等离子体清洁。使用六氟化硫气体,氧气和氩气的混合气体对卡盘工作台8进行检测;版权所有:(C)2010,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2009302401A

    专利类型

  • 公开/公告日2009-12-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TOKYO SEIMITSU CO LTD;

    申请/专利号JP20080157026

  • 发明设计人 ISHIKAWA KAZUMASA;

    申请日2008-06-16

  • 分类号H01L21/304;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 19:00:39

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