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Electron beam drawing mask blank, electron beam drawing mask, and method of manufacturing the same

机译:电子束拉丝掩模坯料,电子束拉丝掩模及其制造方法

摘要

An electron beam drawing mask includes a pattern supporting film for transmitting an electron beam therethrough; an electron beam scattering body pattern formed over the pattern supporting film; and a support member for supporting the pattern supporting film and the electron beam scattering body pattern. The pattern supporting film has a film thickness of 0.005 to 0.2 micron, a film material density of 1.0 to 5.0 g/cm3 and an elastic modulus of 0.8 x 1011 Pa or higher. The electron beam scattering body pattern has a film thickness of 0.2 to 2 micron, a film material density of 1.0 to 5.0 g/cm3, and an elastic modulus of 0.8 x 1011 Pa or higher.
机译:电子束引出掩模包括用于使电子束透射通过的图案支撑膜;和在图案支撑膜上形成的电子束散射体图案;用于支撑图案支撑膜和电子束散射体图案的支撑构件。图案支撑膜的膜厚度为0.005至0.2微米,膜材料密度为1.0至5.0g / cm 3,并且弹性模量为0.8×1011Pa以上。电子束散射体图案的膜厚度为0.2至2微米,膜材料密度为1.0至5.0g / cm 3,并且弹性模量为0.8×1011Pa以上。

著录项

  • 公开/公告号EP1065566A3

    专利类型

  • 公开/公告日2010-01-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HOYA CORPORATION;

    申请/专利号EP20000305513

  • 发明设计人 AMEMIYA ISAO;

    申请日2000-06-30

  • 分类号G03F1/14;G03F1/16;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 18:40:17

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