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In-Ga-Zn-BASED OXIDE SINTERED COMPACT SPUTTERING TARGET AND THIN-FILM TRANSISTOR

机译:铟镓锌基氧化物烧结溅射靶及薄膜晶体管

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sputtering target composed of a In-Ga-Zn-based oxide sintered compact with which a uniform thin-film transistor panel with large area can be manufactured.;SOLUTION: The oxide sintered compact contains In (indium), Zn (zinc), Ga (gallium), and Sn (tin), and the atomic ratio of Sn (tin) satisfies 0.01Sn/(In+Ga+Zn+Sn)0.10.;COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供由In-Ga-Zn基氧化物烧结体构成的溅射靶,利用该溅射靶可以制造大面积的均匀的薄膜晶体管面板。解决方案:氧化物烧结体中含有In(铟)。 ),Zn(锌),Ga(镓)和Sn(锡),且Sn(锡)的原子比满足0.01

著录项

  • 公开/公告号JP2011108873A

    专利类型

  • 公开/公告日2011-06-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 IDEMITSU KOSAN CO LTD;

    申请/专利号JP20090262799

  • 发明设计人 YANO KIMINORI;ITOSE MASAYUKI;

    申请日2009-11-18

  • 分类号H01L21/363;H01L29/786;H01L21/336;C23C14/34;C23C14/08;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 18:22:30

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