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TEMPERATURE CONTROL SYSTEM, TEMPERATURE CONTROL METHOD, PLASMA PROCESSING APPARATUS AND COMPUTER STORAGE MEDIUM

机译:温度控制系统,温度控制方法,等离子体处理装置和计算机存储介质

摘要

There is provided a temperature control system configured to control a temperature of a temperature control target member of a processing chamber for performing a plasma process on a substrate therein. The temperature control system includes a heating unit configured to heat the temperature control target member; a cooling unit configured to cool the temperature control target member by circulating a liquid coolant; and a flow rate control unit configured to control a flow rate of the coolant into the temperature control target member by the cooling unit to a first flow rate when plasma is generated within the processing chamber and to a second flow rate lower than the first flow rate when plasma is not generated within the processing chamber.
机译:提供了一种温度控制系统,该温度控制系统被配置为控制处理室的温度控制目标构件的温度,以在其中的基板上进行等离子体处理。该温度控制系统包括:加热单元,被配置为加热温度控制目标构件;以及冷却单元,其配置为通过使液体冷却剂循环来冷却温度控制目标构件;流量控制单元,其被配置为当在处理室内产生等离子体时将冷却剂通过冷却单元进入温度控制目标部件的流量​​控制为第一流量,并控制为低于第一流量的第二流量。当在处理室内没有产生等离子体时。

著录项

  • 公开/公告号US2011220288A1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-09-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ATSUSHI KOBAYASHI;HIDEKI WAKAI;

    申请/专利号US201113042799

  • 发明设计人 ATSUSHI KOBAYASHI;HIDEKI WAKAI;

    申请日2011-03-08

  • 分类号C23F1/08;F25B29/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:16:04

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