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Reflective mask blank for exposure, reflective mask for exposure, method of producing a semiconductor device, and substrate provided with multilayer reflective film

机译:用于曝光的反射掩模坯料,用于曝光的反射掩模,半导体器件的制造方法以及具有多层反射膜的基板

摘要

To provide a reflective mask blank for exposure that can solve a problem of adsorption failure in fixing a reflective mask using an electrostatic chuck and thus can flatten the surface of the mask using the electrostatic chuck, thereby realizing high-accuracy pattern transfer. In a reflective mask blank for exposure having a multilayer reflective film formed on a board and adapted to reflect exposure light and an absorbent layer formed on the multilayer reflective film and adapted to absorb the exposure light, the shape of a surface of the mask blank on its side opposite to its transfer pattern forming surface is a shape having a convex surface.
机译:提供一种用于曝光的反射掩模坯料,其可以解决在使用静电吸盘固定反射掩模时吸附失败的问题,从而可以利用静电吸盘使掩模的表面平坦化,从而实现高精度的图案转印。在用于曝光的反射掩模坯料中,其具有形成在板上并适于反射曝光光的多层反射膜和形成在该多层反射膜上并适于吸收曝光光的吸收层,掩模坯料的表面的形状在其上。其与转印图案形成表面相反的一侧是具有凸表面的形状。

著录项

  • 公开/公告号US7910264B2

    专利类型

  • 公开/公告日2011-03-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TSUTOMU SHOKI;

    申请/专利号US20070874446

  • 发明设计人 TSUTOMU SHOKI;

    申请日2008-04-15

  • 分类号G03F1;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:08:46

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