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POSITIONING AND SWEEPING MECHANICAL LINEAR DISPLACEMENT SYSTEM FOR NANOMETRIC RESOLUTIONS.

机译:用于纳米分辨率的定位和扫掠机械线性位移系统。

摘要

The present invention refers to a mechanical linear displacement system for obtaining resolution, stability and repeatability of the nanometric order. The system may be applied for performing bi-dimensional and three-dimensional sweeps.
机译:本发明涉及用于获得纳米级的分辨率,稳定性和可重复性的机械线性位移系统。该系统可以应用于执行二维和三维扫描。

著录项

  • 公开/公告号MX2009013547A

    专利类型

  • 公开/公告日2011-06-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 UNIVERSIDAD NACIONAL AUTONOMA DE MEXICO;

    申请/专利号MX20090013547

  • 发明设计人 NASER QURESHI;

    申请日2009-12-11

  • 分类号G01S1/00;

  • 国家 MX

  • 入库时间 2022-08-21 18:05:31

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