摘要：目前,16位以上高精度的模数转换器件(ADC)都采用过采样Σ-△技术,但这一技术的本质缺陷是转换速度极低,有效分辨率达到24位时的转换速度只有几Hz-几十几Hz.为了满足高速、高精度、高分辨率的应用,本文提出了利用高速、中等精度ADC,实现高速高精度ADC的方案,有效分辨率达到24位的同时,转换速度可过几百K Hz.
摘要：集成电路规模的不断扩大,使得基于嵌入式核进行可重用设计已成为主流技术.但嵌入式核的来源不同、设计标准的不兼容性和电路日趋复杂等因素,使系统芯片最终测试的复杂度远远超出了人们的想象,测试费用上升到产品开发总规划的70﹪~80﹪,大大影响了产品的上市时间.国外正在研究的IEEE P1500嵌入式核测试标准通过定义一个可定制的标准结构,采用嵌入式核测试语言(CTL-Cort Test Language)描述有关内核测试的一切有关信息,从而在系统级进行测设可重用,大大提高了测试的效率.本文详细介绍了IEEE P1500的有关概念、结构和内核测试语言,并举例进行了验证.
