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Dynamic light-scattering measuring apparatus using low-coherence light source and light-scattering measuring method of using the apparatus

机译:使用低相干光源的动态光散射测量装置以及使用该装置的光散射测量方法

摘要

There is provided a dynamic light-scattering measuring apparatus including: a Mach-Zehnder interferometer; and a low-coherence light source. Further, there is provided a method for measuring light-scattering intensity of particles in a medium, including the steps of: providing a Mach-Zehnder interferometer; and measuring light-scattering intensity from light emitted from a low-coherence light source, in accordance with a dynamic light-scattering intensity measuring process.
机译:提供了一种动态光散射测量装置,包括:马赫曾德尔干涉仪;以及和低相干光源。此外,提供了一种用于测量介质中颗粒的光散射强度的方法,包括以下步骤:提供马赫曾德尔干涉仪;根据动态光散射强度测量过程,从低相干光源发出的光中测量光散射强度。

著录项

  • 公开/公告号EP2270449A1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-01-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJIFILM CORPORATION;

    申请/专利号EP20100168257

  • 申请日2010-07-02

  • 分类号G01J3/44;G01N15/02;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 17:56:01

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