首页> 中国专利> 基于带通滤波的动态光散射纳米颗粒测量方法及装置

基于带通滤波的动态光散射纳米颗粒测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于带通滤波的动态光散射纳米颗粒测量方法及装置。激光入射到溶液中作布朗运动的纳米颗粒上,颗粒的散射光直接被探测,或与原始激光的部分光干涉后被探测,或反馈入激光腔内发生自混频且自混频信号被探测。光电探测器输出的信号预放大后,并行送入M路由缓冲器、不同频率中心的带通滤波器和RMS方均根处理器串联而成的电路,得到M个不同频率处的信号方均根值,被A/D采集卡采样,最终获得M个不同频率处的功率谱密度函数,本发明解决了现有方法中因系数矩阵严重病态导致反演计算鲁棒性差的问题。降低了对数据采集速度、数据采集量、储存量、处理量等方面的要求,缩短了数据处理时间,可实现对纳米颗粒粒径的快速测试。

著录项

  • 公开/公告号CN102297823B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-01-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN201110127051.7

  • 发明设计人 沈建琪;王华睿;

    申请日2011-05-17

  • 分类号G01N15/02(20060101);

  • 代理机构31001 上海申汇专利代理有限公司;

  • 代理人吴宝根

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2022-08-23 09:12:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 15/02 授权公告日:20130102 终止日期:20150517 申请日:20110517

    专利权的终止

  • 2013-01-02

    授权

    授权

  • 2012-02-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20110517

    实质审查的生效

  • 2011-12-28

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号