要解决的问题:从大量热点中提取容易造成缺陷的热点。解决方案:信息存储部分10存储热点信息12,表面轮廓信息13和CAD信息11作为关于作为检查对象的半导体器件的输入信息。信息处理部分20通过参考表面轮廓信息13和CAD信息11,获取在热点信息12中存储的热点的每个位置处的诸如表面轮廓数据和功能块名称的数据作为表面属性信息,并创建信息-添加的热点信息14(附加信息创建部分23)。信息处理部分基于从输入部分50输入的信息来创建缩小条件信息15(缩小条件设置部分24),并且通过参考添加了信息的热点信息14来提取与所设置的缩小条件匹配的热点。并且创建缩小的热点信息16(热点缩小部分25)。
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