首页> 外国专利> Deposition of Ta- or Nb-doped high-k films

Deposition of Ta- or Nb-doped high-k films

机译:沉积掺Ta或Nb的高k膜

摘要

Methods and compositions for depositing high-k films are disclosed herein. In general, the disclosed methods utilize precursor compounds comprising Ta or Nb. More specifically, the disclosed precursor compounds utilize certain ligands coupled to Ta and/or Nb such as 1-methoxy-2-methyl-2-propanolate (mmp) to increase volatility. Furthermore, methods of depositing Ta or Nb compounds are disclosed in conjunction with use of Hf and/or Zr precursors to deposit Ta-doped or Nb-doped Hf and/or Zr films, The methods and compositions may be used in CVD, ALD, or pulsed CVD deposition processes.
机译:本文公开了用于沉积高k膜的方法和组合物。通常,所公开的方法利用包含Ta或Nb的前体化合物。更具体地说,所公开的前体化合物利用与Ta和/或Nb偶联的某些配体,例如1-甲氧基-2-甲基-2-丙醇酸酯(mmp)来增加挥发性。此外,结合使用Hf和/或Zr前体来沉积Ta掺杂或Nb掺杂的Hf和/或Zr膜,公开了沉积Ta或Nb化合物的方法。该方法和组合物可用于CVD,ALD,或脉冲CVD沉积工艺。

著录项

  • 公开/公告号US8476465B2

    专利类型

  • 公开/公告日2013-07-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHRISTIAN DUSSARRAT;

    申请/专利号US201113297443

  • 发明设计人 CHRISTIAN DUSSARRAT;

    申请日2011-11-16

  • 分类号B05D3/00;B05D1/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:44:55

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号