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DEPOSITION OF TA- OR NB-DOPED HIGH-K FILMS

机译:TA或NB掺杂的高K膜的沉积

摘要

Methods and compositions for depositing high-k films are disclosed herein. In general, the disclosed methods utilize precursor compounds comprising Ta or Nb. More specifically, the disclosed precursor compounds utilize certain ligands coupled to Ta and/or Nb such as 1-methoxy-2-methyl-2-propanolate (mmp) to increase volatility. Furthermore, methods of depositing Ta or Nb compounds are disclosed in conjunction with use of Hf and/or Zr precursors to deposit Ta-doped or Nb-doped Hf and/or Zr films, The methods and compositions may be used in CVD, ALD, or pulsed CVD deposition processes.
机译:本文公开了用于沉积高k膜的方法和组合物。通常,所公开的方法利用包含Ta或Nb的前体化合物。更具体地说,所公开的前体化合物利用与Ta和/或Nb偶联的某些配体,例如1-甲氧基-2-甲基-2-丙醇酸酯(mmp)来增加挥发性。此外,结合使用Hf和/或Zr前体来沉积Ta掺杂或Nb掺杂的Hf和/或Zr膜,公开了沉积Ta或Nb化合物的方法。该方法和组合物可用于CVD,ALD,或脉冲CVD沉积工艺。

著录项

  • 公开/公告号US2012065420A1

    专利类型

  • 公开/公告日2012-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHRISTIAN DUSSARRAT;

    申请/专利号US201113297443

  • 发明设计人 CHRISTIAN DUSSARRAT;

    申请日2011-11-16

  • 分类号C07F9/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 17:33:13

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