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Deposition of Ta- or Nb-doped high-k films

机译:沉积Ta或Nb掺杂的高k膜

摘要

Methods and compositions for depositing high-k films are disclosed herein. In general, the disclosed methods utilize precursor compounds comprising Ta or Nb. More specifically, the disclosed precursor compounds utilize certain ligands coupled to Ta and/or Nb such as 1-methoxy-2-methyl-2-propanolate (mmp) to increase volatility. Furthermore, methods of depositing Ta or Nb compounds are disclosed in conjunction with use of Hf and/or Zr precursors to deposit Ta-doped or Nb-doped Hf and/or Zr films. The methods and compositions may be used in CVD, ALD, or pulsed CVD deposition processes.
机译:本文公开了用于沉积高k膜的方法和组合物。通常,所公开的方法利用包含Ta或Nb的前体化合物。更具体地说,所公开的前体化合物利用与Ta和/或Nb偶联的某些配体,例如1-甲氧基-2-甲基-2-丙醇酸酯(mmp)来增加挥发性。此外,结合使用Hf和/或Zr前体以沉积Ta掺杂或Nb掺杂的Hf和/或Zr膜,公开了沉积Ta或Nb化合物的方法。该方法和组合物可用于CVD,ALD或脉冲CVD沉积工艺中。

著录项

  • 公开/公告号US8071163B2

    专利类型

  • 公开/公告日2011-12-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHRISTIAN DUSSARRAT;

    申请/专利号US20080099027

  • 发明设计人 CHRISTIAN DUSSARRAT;

    申请日2008-04-07

  • 分类号C23C16/00;C23C16/40;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 17:25:48

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