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Silicon carbide - a semiconductor device with schottky - blocking layer diode and method for its production

机译:碳化硅-具有肖特基势垒层二极管的半导体器件及其制造方法

摘要

Silicon carbide - a semiconductor device having a schottky - blocking layer diode, wherein the silicon carbide - a semiconductor device having:– a silicon carbide substrate (1) first conductivity type with a first surface (1a) and one of the first surface (1a) opposite second surface (1b);– a silicon carbide - drift layer (2) first conductivity type on the first surface (1a) of the substrate (1), wherein the drift layer (2) a lower impurity concentration than the substrate (1) comprises;– a schottky - electrode (4) on the drift layer (2), wherein the schottky - electrode (4) in a cell area of the drift layer (2) a schottky - contact with a surface of the drift layer (2); and– an ohmic electrode (5) on the second surface (1b) of the substrate (1), wherein– the schottky - electrode (4) has an oxide layer (4a), which are in direct contact with the surface of the drift layer (2), and of an oxide of a first metal is built up,– the first metal is molybdenum, titanium, nickel or an alloy of at least two of these elements is,– the..
机译:碳化硅-具有肖特基势垒层二极管的半导体器件,其中,碳化硅-具有以下器件的半导体器件:–具有第一表面(1a)和第一表面(1a)中的一个的第一导电类型的碳化硅衬底(1) )与第二表面(1b)相对;-碳化硅-衬底(1)的第一表面(1a)上的第一导电类型的漂移层(2),其中漂移层(2)的杂质浓度低于衬底(1)的杂质浓度。 1)包括; –漂移层(2)上的肖特基电极(4),其中,在漂移层(2)的单元区域中的肖特基电极(4)肖特基-与漂移层的表面接触(2);以及-在基板(1)的第二表面(1b)上的欧姆电极(5),其中-肖特基-电极(4)具有氧化层(4a),该氧化层与漂移表面直接接触层(2),并形成第一金属的氧化物,–第一金属是钼,钛,镍或这些元素中至少两种的合金。

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