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Method for manufacturing thin-film resistor, thin-film resistor and semiconductor device

机译:薄膜电阻器的制造方法,薄膜电阻器及半导体装置

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To allow stable laser trimming without adding a new mask and process step, influencing manufacturing dispersion nor influencing a characteristic of a thin-film resistive element.;SOLUTION: The thin-film resistive element formed on a silicon substrate 1 and subjected to laser trimming includes, in a laminated structure, a first thin-film resistive element 10 formed at a film thickness of 3-50 nm, a silicon oxide film 9 formed at a thickness of 10-30 nm on an upper layer of the first thin-film resistive element 10, and a second thin-film resistive element 10 formed on an upper layer of the silicon oxide film 9 at a film thickness not smaller than 50 nm.;COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
机译:解决的问题:为了在不增加新的掩模和工艺步骤的情况下进行稳定的激光修整,不影响制造色散或不影响薄膜电阻元件的特性。解决方案:在硅衬底1和1上形成的薄膜电阻元件。进行激光修整的叠层结构包括:第一薄膜电阻元件10,其形成为3-50nm的膜厚;以及氧化硅膜9,其形成在其上层,厚度为10-30nm。第一薄膜电阻元件10和第二薄膜电阻元件10以不小于50nm的膜厚度形成在氧化硅膜9的上层上;版权所有:(C)2009,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP5549049B2

    专利类型

  • 公开/公告日2014-07-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社リコー;

    申请/专利号JP20070221669

  • 发明设计人 加藤 英記;山下 公彦;

    申请日2007-08-28

  • 分类号H01L27/04;H01L21/822;H01L21/82;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 16:16:10

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