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Method of proving formal test bench fault detection coverage

机译:证明正式测试台故障检测覆盖率的方法

摘要

Some aspects of the present disclosure provide for a system and method to discover which parts of a design a formal test suite can detect faults in, and thus how much of a design structure is covered by a property set. A mutatable RTL design is defined which allows for modification of a part of an RTL design from its intended behavior to a non-intended behavior, thus introducing unwanted effects. The mutatable RTL design can then be synthesized to produce a functional representation of the design. The property set can be re-run on the synthesized design to see whether the functional representation of the design is sensitive to the unwanted effect and thus whether formal verification can detect the modification.
机译:本公开的一些方面提供了一种系统和方法,以发现正式的测试套件可以检测到设计的哪些部分,从而发现属性集覆盖了多少设计结构。定义了一种可变的RTL设计,该设计允许将RTL设计的一部分从其预期行为更改为非预期行为,从而引入不良影响。然后可以合成可变的RTL设计,以产生该设计的功能表示。可以在合成设计上重新运行该属性集,以查看设计的功能表示是否对不良影响敏感,从而查看形式验证是否可以检测到修改。

著录项

  • 公开/公告号US8689155B1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-04-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号US201213626249

  • 发明设计人 DARREN GALPIN;

    申请日2012-09-25

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:59:53

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