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Cu alloy bonding wire for semiconductor package

机译:半导体封装用铜合金焊线

摘要

A Cu alloy bonding wire for a semiconductor package according to the present invention is to provide a Cu alloy bonding wire which reduces costs and maintains excellent bonding properties and reliability. The Cu alloy bonding wire for a semiconductor package includes 0.2-2.0 wt% of Pd, 0.0005-0.05 wt% of elements selected among first additives of Au, Ag, and Pt, 0.0005-0.01 wt% of elements selected among second additives of Ca, Sn, and P, and the remainder of Cu. A wire drawing process is carried out by performing the metal coating of Au, Ag, Pt or their alloy on a surface in order to improve functions.
机译:根据本发明的用于半导体封装的Cu合金键合线旨在提供一种降低成本并且保持优异的键合特性和可靠性的Cu合金键合线。用于半导体封装的Cu合金键合线包括0.2-2.0重量%的Pd,0.0005-0.05重量%的选自Au,Ag和Pt的第一添加剂的元素,0.0005-0.01重量%的Ca选自第二添加剂的元素。 ,Sn和P,以及其余的Cu。为了提高功能,通过在表面上进行Au,Ag,Pt或其合金的金属被覆而进行拉丝加工。

著录项

  • 公开/公告号KR101451361B1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-10-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20120139593

  • 发明设计人 조동철;박중규;김재균;이민철;

    申请日2012-12-04

  • 分类号H01L21/60;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 15:39:55

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