首页> 外国专利> A tensile-strained semiconductor device and method of manufacturing a packaged semiconductor device with a tensile stress

A tensile-strained semiconductor device and method of manufacturing a packaged semiconductor device with a tensile stress

机译:拉伸应变的半导体器件以及具有拉伸应力的封装半导体器件的制造方法

摘要

A composite semiconductor device (100, 150) and a method of manufacturing a compound semiconductor device (100, 150) are disclosed. In one embodiment, the composite device (100, 150) includes a substrate (130) having a first thickness, a bonding layer (120) disposed on the substrate (130), and a chip (110) formed on the bonding layer (130). 120), the chip (110) having a second thickness, the second thickness being greater than the first thickness.
机译:公开了一种复合半导体器件(100、150)和一种制造化合物半导体器件(100、150)的方法。在一个实施例中,复合装置(100、150)包括具有第一厚度的基板(130),设置在基板(130)上的粘结层(120)以及形成在粘结层(130)上的芯片(110)。 )。 120),芯片(110)具有第二厚度,第二厚度大于第一厚度。

著录项

  • 公开/公告号DE102013113232A1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号DE201310113232

  • 发明设计人 RALF OTREMBA;

    申请日2013-11-29

  • 分类号H01L23/495;H01L21/58;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 15:37:19

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号