首页> 外国专利> INTEGRATED COMPARATOR HYSTERESIS, ESPECIALLY IN FD SOI TECHNOLOGY

INTEGRATED COMPARATOR HYSTERESIS, ESPECIALLY IN FD SOI TECHNOLOGY

机译:集成比较器迟滞,特别是在FD SOI技术中

摘要

The hysteresis is obtained by the threshold voltage difference between MOS transistors (T5, T6) having their boxes (CS5, CS6) directly biased by the signal outputs (NOUT, OUT) of the output stage.
机译:通过使MOS晶体管(T5,T6)的盒(CS5,CS6)被输出级的信号输出(NOUT,OUT)直接偏置的MOS晶体管(T5,T6)之间的阈值电压差来获得磁滞。

著录项

  • 公开/公告号FR2996386A1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-04-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 STMICROELECTRONICS SA;

    申请/专利号FR20120059273

  • 发明设计人 FRANCOIS AGUT;

    申请日2012-10-01

  • 分类号H03K3/0233;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 15:36:33

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号