首页> 外国专利> Amorphous Silicon Thin-Film Transistors with Reduced Electrode Contact Resistivity and Methods for Forming the Same

Amorphous Silicon Thin-Film Transistors with Reduced Electrode Contact Resistivity and Methods for Forming the Same

机译:降低电极接触电阻率的非晶硅薄膜晶体管及其形成方法

摘要

Embodiments described herein provide amorphous silicon thin-film transistors (a-Si TFTs) and methods for forming a-Si TFTs. A substrate is provided. A gate electrode is formed above the substrate. An a-Si channel layer is formed above the gate electrode. A contact layer is formed above the a-Si channel layer. The contact layer includes titanium, zinc, arsenic, or a combination thereof. A source electrode and a drain electrode are formed above the contact layer.
机译:本文描述的实施例提供非晶硅薄膜晶体管(a-Si TFT)和用于形成a-Si TFT的方法。提供了基板。在衬底上方形成栅电极。在栅电极上方形成a-Si沟道层。在a-Si沟道层上方形成接触层。接触层包括钛,锌,砷或其组合。源电极和漏电极形成在接触层上方。

著录项

  • 公开/公告号US2015155368A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-06-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTERMOLECULAR INC.;

    申请/专利号US201314095834

  • 发明设计人 KHALED AHMED;

    申请日2013-12-03

  • 分类号H01L29/66;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:22:32

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号