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Microlithography projection system with an accessible diaphragm or aperture stop

机译:带有可触及的光圈或孔径光阑的微光刻投影系统

摘要

The invention relates to a microlithography projection lens for wavelengths =248 nm =, preferably =193 mm, in particular EUV lithography for wavelengths ranging from 1-30 nm for imaging an object field in an object plane onto an image field in an image plane, the microlithography projection lens developed in such a manner that provision is made for an accessible diaphragm plane, into which for instance an iris diaphragm can be introduced.
机译:本发明涉及一种用于波长<= 248nm <=,优选地<= 193mm的微光刻投影透镜,特别是用于波长范围为1-30nm的EUV光刻,以将物平面中的物场成像到物镜中的像场上。在图像平面上,微光刻投影透镜以这样的方式开发,即提供可进入的光阑平面,例如可以将虹膜光阑引入其中。

著录项

  • 公开/公告号US9146472B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-09-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CARL ZEISS SMT GMBH;

    申请/专利号US201314080224

  • 发明设计人 HANS-JUERGEN MANN;

    申请日2013-11-14

  • 分类号G03F7/20;G02B17/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:19:44

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