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Semiconductor memory device capable of setting an internal state of a NAND flash memory in response to a set feature command

机译:能够响应于设置特征命令来设置NAND闪存的内部状态的半导体存储装置

摘要

A semiconductor memory device according to an embodiment is provided with a plurality of first latch circuits that latch setting-data at different timings, a plurality of hold circuits provided corresponding to the respective plurality of first latch circuits, each holding data latched by the corresponding first latch circuit, and an address decoder that decodes an address that specifies a destination to hold data. Each of the plurality of hold circuits has one or more holding parts that hold data latched by the corresponding first latch circuit based on a decode signal decoded by the address decoder.
机译:根据实施例的半导体存储装置设置有:多个第一锁存电路,其在不同的定时锁存设置数据;多个保持电路,其对应于各个多个第一锁存电路而设置,每个保持数据被相应的第一锁存电路锁存。锁存电路,以及地址解码器,其对指定保存数据的目的地的地址进行解码。多个保持电路中的每一个具有一个或多个保持部分,其基于由地址解码器解码的解码信号来保持由相应的第一锁存电路锁存的数据。

著录项

  • 公开/公告号US9070426B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-06-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA;

    申请/专利号US201414204565

  • 发明设计人 NAOAKI KANAGAWA;

    申请日2014-03-11

  • 分类号G11C16/20;G11C7/10;G11C16/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:18:43

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