Semiconductor devices; Investigations; Products;
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机译:研究EEPROM和FLASH EEPROM测试结构中隧穿氧化物薄膜的退化。
机译:基于芴的新型共轭侧链含氟聚合物用于发光和三元闪存器件
机译:高密度和低压可编程缩放Sonos非易失性存储器,用于字节和闪存型EEPROM
机译:在以下问题中:某些探针卡组件,其组件以及某些经过测试的DRam和NaND闪存设备以及包含它们的产品。第337-Ta-621号调查