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RADICAL ENHANCED ATOMIC LAYER DEPOSITION USING CF4 FOR PROMOTING OXYGEN RADICAL FORMATION

机译:使用CF4促进氧自由基形成的自由基增强原子层沉积

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for carrying out a RE-ALD treatment having a high deposition speed.;SOLUTION: A method for carrying out a radical enhanced atomic layer deposition (RE-ALD) on the surface of a substrate 142 in a reaction chamber 20 includes a step for supplying a gas mixture 112 of CF4 gas and O2 gas, a step for forming plasma from the gas mixture to produce an oxygen radical at a higher speed than in a case using a gas mixture 112 excluding CF4 gas, and a step for continuously supplying the oxygen radical and a precursor gas 116 into the reaction chamber 20 to form a metal oxide film made of a metal organic precursor on the surface of the substrate 142. The CF4 gas has a concentration in the range of from 0.1 vol.% to 10 vol.%.;SELECTED DRAWING: Figure 1;COPYRIGHT: (C)2016,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种以高沉积速度进行RE-ALD处理的方法。解决方案:一种在衬底142的表面上进行自由基增强原子层沉积(RE-ALD)的方法。反应室20包括:提供CF 4气体和O 2气体的气体混合物112的步骤;与使用除CF 4气体以外的气体混合物112的情况相比,由该气体混合物形成等离子体以产生氧自由基的步骤。以及将氧自由基和前体气体116连续地供应到反应室20中以在基板142的表面上形成由金属有机前体制成的金属氧化物膜的步骤。从0.1体积%到10体积%;选定的图纸:图1;版权:(C)2016,日本特许厅和INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2016047958A

    专利类型

  • 公开/公告日2016-04-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ULTRATECH INC;

    申请/专利号JP20150125302

  • 发明设计人 MARK J SOWA;ARTHUR W ZAFIROPOULO;

    申请日2015-06-23

  • 分类号C23C16/40;H01L21/316;H01L21/31;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 14:43:13

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