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METHOD OF FORMING A GATE SHIELD IN AN ED-CMOS TRANSISTOR AND A BASE OF A BIPOLAR TRANSISTOR USING BICMOS TECHNOLOGIES

机译:利用biCMOS技术在ed-CMOS晶体管中形成栅极屏蔽的方法和双极晶体管的基础

摘要

A method of fabricating a MOSFET transistor in a SiGe BICMOS technology and resulting structure having a drain-gate feedback capacitance shield formed between a gate electrode and the drain region. The shield does not overlap the gate and thereby minimizes effect on the input capacitance of the transistor. The process does not require complex or costly processing since the shield is composed of bipolar base material commonly used in SiGe BICMOS technologies.
机译:一种用SiGe BICMOS技术制造MOSFET晶体管的方法,以及所得的结构,该结构具有在栅电极和漏区之间形成的漏栅反馈电容屏蔽层。屏蔽层不与栅极重叠,从而使对晶体管输入电容的影响最小化。由于屏蔽层由SiGe BICMOS技术中常用的双极性基材组成,因此该工艺不需要复杂或昂贵的处理。

著录项

  • 公开/公告号US2016172355A1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-06-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED;

    申请/专利号US201615050684

  • 发明设计人 JEFFREY A. BABCOCK;ALEXEI SADOVNIKOV;

    申请日2016-02-23

  • 分类号H01L27/06;H01L29/40;H01L29/06;H01L29/78;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:37:43

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