首页> 外国专利> HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR WITH INDIUM NITRIDE LAYER

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR WITH INDIUM NITRIDE LAYER

机译:氮化铟层的高电子迁移率晶体管

摘要

A semiconductor device includes a substrate, a first layer over the substrate, a second layer over the first layer, and a third layer over the second layer. The third layer has a first portion and a second portion. The first portion of the third layer is separated from the second portion of the third layer. The semiconductor device also includes a first blended region beneath the first portion of the third layer. The first blended region includes aluminum atoms drawn from the first layer into at least the second layer. The semiconductor device further includes a second blended region beneath the second portion of the third layer. The second blended region includes aluminum atoms drawn from the first layer into at least the second layer. The semiconductor device also includes a source contact and a drain contact.
机译:半导体器件包括衬底,在衬底上方的第一层,在第一层上方的第二层以及在第二层上方的第三层。第三层具有第一部分和第二部分。第三层的第一部分与第三层的第二部分分离。半导体器件还包括在第三层的第一部分下方的第一混合区域。第一混合区域包括从第一层吸入至少第二层的铝原子。半导体器件还包括在第三层的第二部分下方的第二混合区域。第二混合区域包括从第一层吸入至少第二层的铝原子。半导体器件还包括源极接触和漏极接触。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号