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Selective area deposition of metal films by atomic layer deposition (ALD) and chemical vapor deposition (CVD)

机译:通过原子层沉积(ALD)和化学气相沉积(CVD)进行金属膜的选择性区域沉积

摘要

Selective area deposition of metal films by atomic layer deposition (ALD) and chemical vapor deposition (CVD) is described. In an example, a method of fabricating a metallization structure for an integrated circuit involves forming an exposed surface above a substrate, the exposed surface including regions of exposed dielectric material and regions of exposed metal. The method also involves forming, using a selective metal deposition process, a metal layer on the regions of exposed metal without forming the metal layer on the regions of exposed dielectric material.
机译:描述了通过原子层沉积(ALD)和化学气相沉积(CVD)的金属膜的选择性区域沉积。在示例中,一种制造用于集成电路的金属化结构的方法包括在衬底上方形成暴露表面,该暴露表面包括暴露的介电材料区域和暴露的金属区域。该方法还涉及使用选择性金属沉积工艺在暴露的金属的区域上形成金属层,而不在暴露的电介质材料的区域上形成金属层。

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