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Monolithically integrated iii - v - opti-electronic detection system with si - cmos

机译:具有si-cmos的单片集成iii-v-光电检测系统

摘要

A method of forming a monolithically integrated iii - v - opti-electronic detection system with a complementary metal oxide semiconductor silicon - - - (cmos, complementary metal - oxides - semiconductor -) component. The method can comprise: the formation of a recessed waveguide in a recessed oxide - (box) - layer of a semiconductor - to - insulator - (soi -) substrate; forming a first optoelectronic component and a second optoelectronic component adjacent to the recessed waveguide; and a forming a cmos - component on a semiconductor layer by means of the box - layer.
机译:一种利用互补金属氧化物半导体硅-(-CMOS,互补金属-氧化物-半导体-)组件形成单片集成iii-v-光电检测系统的方法。该方法可以包括:在凹陷的氧化物-(盒)-半导体层-绝缘体-(soi-)衬底中形成凹陷的波导;在凹入的波导附近形成第一光电组件和第二光电组件;通过盒层在半导体层上形成CMOS组件。

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